Leica EM TXP

Leica EM TXP yra unikalus instrumentas mėginių paruošimui, specialiai sukurtas frezavimui, pjovimui, šlifavimui ir poliravimui prieš atliekant tyrimus naudojant REM (skenuojančią elektroninę mikroskopiją), TEM (perduodančią elektroninę mikroskopiją) arba LM (šviesos mikroskopiją). Dėl integruoto stereomikroskopo net sunkiai atpažįstami objektai gali būti tiksliai lokalizuoti ir lengvai paruošti. Naudojant mėginių sukimo ranką, mėginys gali būti tiesiogiai stebimas kampu nuo 0° iki 60° arba 90° - atsižvelgiant į priekį - o atstumas gali būti nustatomas naudojant okuliaro tinklelį.