Leica DCM8

Kombinuotas konfokalinio ir interferometrinio optinio profilometro prietaisas, skirtas neardomiems trimatės paviršiaus matavimams. Ultrarapid analizė naudojant galingą programinę įrangą, paprastas režimo pasirinkimas paspaudimu ir konfokalinė skenavimo technologija be judančių dalių. Paviršiams su stačiomis šlaitais ar sudėtingomis formomis: HD konfokaliniai matavimai užtikrina vertikalią rezoliuciją iki 2 nm. Palyginti lygiems paviršiams su mikrostruktūromis: trys interferometrijos režimai leidžia pasiekti rezoliuciją iki 0,1 nm. • Inovatyvi HD mikrodisplėjaus skenavimo technologija: jokių judančių dalių jutiklio galvutėje, todėl greitas, pakartojamas duomenų surinkimas. • Integruota HD CCD kamera su dideliu matymo lauku, leidžianti vienu metu analizuoti didesnę mėginių paviršiaus sritį. • Supergreitas XY topografijos siuvimo režimas, skirtas vientisam, tiksliam didesnio paviršiaus ploto modeliui. • 4 skirtingų spalvų LED diodai jutiklio galvutėje, suteikiantys įspūdingą, realistišką...